飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）的背散射成像，用來(lái)掃描樣品和發(fā)現可疑的 “GSR" 顆粒。一旦發(fā)現可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識別在該粒子中的元素。zui常見(jiàn)的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測，例如 Ti 和 Zn 也可為搜索條件進(jìn)行搜索。
飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）是在臺式掃描電鏡運行自動(dòng)射擊殘留物分析軟件。其設計基于飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化，以提高用戶(hù)操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個(gè)項目：自動(dòng)射擊殘留物分析和分類(lèi)軟件包，BSED 和 EDS 探頭內部集成，校準試樣。
配備 CeB6 燈絲，使其穩定運行，燈絲壽命不低于 1500 個(gè)小時(shí)，從可用性，適用性和運行時(shí)間的角度來(lái)看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時(shí)間，和快速的全自動(dòng)馬達樣品臺，使得飛納 GSR 成為高度自動(dòng)化應用的理想工具，可以用來(lái)進(jìn)行自動(dòng)射擊殘留物分析。
飛納電鏡射擊殘留物分析 Phenom GSR
基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像
直觀(guān)易用的 GSR 軟件
高吞吐量，一次性放置多達 36 個(gè)試樣
操作簡(jiǎn)單，*丟失導航系統，*集成能譜儀
測量結果準確可靠，廣泛兼容法醫領(lǐng)域的各類(lèi)應用
規格參數
| 光學(xué)放大： | 3 - 16 X |
| 電子光學(xué)放大 | ：200,000 X |
| 分辨率 | 優(yōu)于 8 nm |
| 數字放大 | Max. 12 X |
| 光學(xué)導航相機 | 彩色 |
| 加速電壓 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 連續可調 |
| 真空模式 | 高分辨率模式 降低核電效應模式 高真空模式 |
| 探測器 | 背散射電子探測器 二次電子探測器 (選配) |
| 樣品尺寸 | zui大 100 mm X 100 mm 可同時(shí)裝載 36 個(gè) 0.5 英寸樣品臺 |
| 樣品高度 | zui高 65 mm，樣品高度全自動(dòng)調節 |
傳真：
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