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CICC-11 | 飛納電鏡展會邀請

 更新時間:2019-05-17 點擊量:2328

第十一屆先進陶瓷研討會 (CICC-11) 將于 2019 年 5 月 25 日至 29 日在云南省昆明市召開。

 

CICC 先進陶瓷研討會是由中國硅酸鹽學(xué)會發(fā)起并主辦的一個系列性學(xué)術(shù)會議。至今,已成為亞洲具有相當(dāng)影響力的大型學(xué)術(shù)會議。國內(nèi)從事特種陶瓷研究的相關(guān)高等院校及科研院所均有代表出席歷屆 CICC。

 

會議時間:2019 年 5 月 25 日 - 29 日
會議地點:云南 · 昆明 · 云安會都酒店

 

掃描電鏡表征陶瓷類樣品

 

    

功能摻雜陶瓷                                                            陶瓷片斷面

圖1 陶瓷掃描電鏡圖片

 

掃描電鏡在陶瓷樣品中的研究主要為以下幾個方面的研究:

 

· 顯微結(jié)構(gòu)分析:晶體生長機理、臺階、位錯、缺陷等的研究;
· 成分非均勻性、殼芯結(jié)構(gòu)、包裹結(jié)構(gòu)的研究;
· 靜態(tài)或動態(tài)微觀裂紋或氣孔的研究;
· 加熱前后晶體合成、氣化、聚合反應(yīng)等研究;
· 微區(qū)成分分析。

 

對于導(dǎo)電性差的陶瓷,為了避免荷電效應(yīng)的影響,常規(guī)的方法包括:蒸鍍導(dǎo)電膜、降低入射電子束能量、拍照采用快掃模式、改善導(dǎo)電通路、減小樣品尺寸、低真空模式等。

 

在實際中使用較多一般是蒸鍍導(dǎo)電膜,包括蒸鍍金屬膜 Au、Pt、Ag、Cr 或碳膜。

 

     

     噴金前                                                                  噴金后

圖2 陶瓷粉體

 

圖 2 顯示了同一樣品、同一參數(shù)噴金前后的圖像差異,可以看出飛納電鏡在不噴金條件下,陶瓷粉在 40000x 高倍下依然沒有明顯充電,表現(xiàn)相當(dāng)不俗,噴金之后效果更進一步提升,邊緣更加銳利,細節(jié)更加突出。

 

降低荷電效應(yīng)樣品杯

采用飛納電鏡降低荷電效應(yīng)樣品杯之后,由于低真空下對樣品表面電子累積的有效緩解,可以不用噴金直接得到非常的圖片。

 

 

能譜分析

 

飛納電鏡能譜分析:點掃描

 

飛納電鏡能譜分析:線掃描

 

飛納電鏡能譜分析:面掃描

 

圖 3

 

除了基本的形貌觀察之外,掃描電鏡的一些選配件可以實現(xiàn)諸如能譜分析、EBSD、陰極熒光等其他角度的分析。其中常見的當(dāng)屬電鏡能譜分析 (EDS),在圖 3 中可以看到,通過掃描電鏡能譜分析,即直接選點、劃線、框面進行分析,數(shù)分鐘后即可得到結(jié)果。

 

在陶瓷樣品中,經(jīng)常需要研究摻雜相的分布,比如均勻混合還是只分布于晶界,此時通過圖片顯然不能確定,加上微區(qū)成分信息的數(shù)據(jù),就可以一目了然。

 

想了解更多掃描電鏡在陶瓷樣品中的應(yīng)用嗎?飛納電鏡在 CICC-11 等著你。

 

傳真:

郵箱:info@phenom-china.com

地址:上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5,705 室

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