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掃描電子顯微鏡的優(yōu)點以及結構優(yōu)勢

 更新時間:2017-10-13 點擊量:3222
   掃描電子顯微鏡是根據不同信息產生的機理,采用不同的信息檢測器,使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的采集,可得到有關物質微觀形貌的信息;對x射線的采集,可得到物質化學成分的信息。正因如此,根據不同需求,可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。
  掃描電子顯微鏡的優(yōu)點
 ?、儆休^高的放大倍數,20-20萬倍之間連續(xù)可調;
 ?、谟泻艽蟮木吧?,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構;
 ?、墼嚇又苽浜唵巍?目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
  由于掃描電子顯微鏡可用多種物理信號對樣品進行綜合分析,并具有可以直接觀察較大試樣、放大倍數范圍寬和景深大等特點,當陶瓷材料處于不同的外部條件和化學環(huán)境時,掃描電子顯微鏡在其微觀結構分析研究方面同樣顯示出極大的優(yōu)勢。
  掃描電子顯微鏡主要表現為:
 ?、帕W加載下的微觀動態(tài) (裂紋擴展)研究 ;
 ?、萍訜釛l件下的晶體合成、氣化、聚合反應等研究 ;
 ?、蔷w生長機理、生長臺階、缺陷與位錯的研究;
 ?、瘸煞值姆蔷鶆蛐?、殼芯結構、包裹結構的研究;
 ?、删ЯO喑煞衷诨瘜W環(huán)境下差異性的研究等。

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